?為獲取Uv紫外老化試驗(yàn)箱較好的信號(hào)比輸出，必須對(duì)一組測(cè)量進(jìn)行平均技術(shù)，通常這需要200~2000次數(shù)據(jù)平均才可能獲得較好的信號(hào)比輸出。

對(duì)于直流電壓測(cè)試，使用500Hz高壓脈沖發(fā)生器和2000次數(shù)據(jù)平均大約需要的測(cè)量時(shí)間為4s，這個(gè)時(shí)間過(guò)程對(duì)于電荷衰減過(guò)程中捕捉非?？焖偎p電荷的過(guò)程是不足夠的。
同樣，對(duì)于交流50Hz正弦波形，假定需要500組數(shù)據(jù)進(jìn)行平均，如果一個(gè)波形上進(jìn)行16個(gè)點(diǎn)的測(cè)量總共需要8000 個(gè)循環(huán)周期（16×500=8000），這將總共耗時(shí)160s（8000×20ms）。這些數(shù)十秒的測(cè)量時(shí)間將對(duì)材料體內(nèi)的陷阱電荷的準(zhǔn)確幅值和位置的準(zhǔn)確獲取變得十分困難。 

電源頻率對(duì)交流空間電荷測(cè)量的限制，當(dāng)使用上述傳統(tǒng)的PEA系統(tǒng)進(jìn)行交流空間電荷測(cè)量時(shí)，常用的一種方法就是波形取點(diǎn)（point on wave，POW）法，電腦能直接同時(shí)控制高壓電源和高壓脈沖電源的觸發(fā)，這使得在交流電壓波形上選取特定的點(diǎn)進(jìn)行同步的空間電荷測(cè)量成為可能。

對(duì)Uv紫外老化試驗(yàn)箱交流電壓波形的不同相位進(jìn)行測(cè)量將會(huì)產(chǎn)生不同電壓幅值，如果施加的交流電壓頻率很低，比如少于0.05Hz，輸出的電壓幅值變化很小，這就與直流下的情況類似。但當(dāng)外加電壓頻率很高時(shí)，使用機(jī)械繼電器開(kāi)關(guān)和波形取點(diǎn)法的21缺點(diǎn)就很明顯了。